ID22 - High resolution powder diffraction beamline

Artal R., Andersen H.L., Del Olmo R., Villaluenga I., Sobrados I., Díez-Gómez V., Gainza J., Fernández-Díaz M.T., Alonso J.A., Jiménez R., Aguadero A.,
Solid State Ionics 428, 116952-1-116952-15 (2025)

Bénariac-Doumal L., Déroche I., Nouali H., Paillaud J.L., Örs T., Fitch A.N., Dejoie C.,
Physical Chemistry Chemical Physics 27, 10621-10634 (2025)

Bernasconi A., Beretta M., Curetti N., Tribaudino M., Francescon F., Sartori R., Pavese A.,
Ceramics International , epub (2025)

Caielli T., Ferrari A.R., Stucchi D., Ferrara C., Capri A., Gatto I., Baglio V., Pancaldi A., Sassella A., Zappia S., Schieroni A.G., Mustarelli P.,
Chemical Engineering Journal 508, 160825-1-160825-10 (2025)

Chaib Draa Y.M., Örs T., Déroche I., Dejoie C., Paillaud J.L.,
CrystEngComm 27, 5095-5099 (2025)

Checchia S., Bonavia D., Ferri D., Alxneit I., Groppo E., Ricchebuono A., Lazzarini P., Vottero E., Pellegrini R., Piovano A., Dejoie C., Chizallet C., Raybaud P.,
Research Square , (2025)